Tạp chí Phát triển Khoa học và Công nghệ, T. 19, S. 3T (2016)

Cỡ chữ:  Nhỏ  Vừa  Lớn

Khảo sát tỉ lệ kháng kháng sinh và gen quy định độc tố exfoliative toxins của các chủng Staphylococcus aureus phân lập tại Viện Pasteur TP. HCM

Phan Nữ Đài Trang, Vũ Lê Ngọc Lan, Uông Nguyễn Đức Ninh, Cao Hữu Nghĩa

Tóm tắt


Exfoliative toxins (ETs) là loại độc tố gây hội chứng bong vảy da (Staphylococcal scalded skin syndrome, viết tắt SSSS) nguy hiểm, chủ yếu ảnh hưởng đến trẻ sơ sinh và trẻ nhỏ [1]. Qua việc khảo sát tỉ lệ kháng kháng sinh và tỉ lệ phát hiện gen eta, etb mã hóa độc tố ETs gây bệnh trên nhóm Staphylococcus aureus (S.aureus), chúng tôi mong muốn đưa ra được các kết luận về mối liên hệ giữa sự xuất hiện gen gây bệnh với khả năng đề kháng kháng sinh của S. aureus, từ đó giúp các các bác sĩ điều trị đưa ra hướng lựa chọn kháng sinh phù hợp, giảm nguy cơ lây lan các chủng S. aureus kháng Methicillin (Methicillin resistant Staphylococcus aureus, viết tắt MRSA) hiện nay trong cộng đồng. Trong nghiên cứu này, chúng tôi xác định tính nhạy cảm kháng sinh của S. aureus bằng phương pháp Kirby-Bauer trên 293 chủng S. aureus phân lập từ mẫu bệnh phẩm tại Khoa Sinh học Lâm sàng, Viện Pasteur TP. HCM. Trong tổng số 293 chủng S. aureus được nghiên cứu, chúng tôi xác định được 49,7 % chủng MRSA. Tiến hành phương pháp PCR với cặp mồi đặc hiệu phát hiện gen eta, etb mã hóa độc tố ETs trên 118 chủng S. aureus, phát hiện 4/118 (3,4 %) chủng S. aureus mang gen eta, 1/118 (0,8 %) chủng S. aureus mang gen etb. Vì số chủng vi khuẩn S. aureus mang gen mã hóa độc tố ETs nhỏ nên mối liên quan giữa gen quy định định độc tố ETs với tính đề kháng kháng sinh ở S. aureus chưa được xác định rõ ràng.


Toàn văn: PDF

Tạp chí Phát triển Khoa học và Công nghệ/Journal of Science and Technology Development
ISSN: 1859-0128

VietnamJOL is supported by INASP